Holistic Variability Analysis in Resistive Switching Memories Using a Two-Dimensional Variability Coefficient

  1. Acal, C.
  2. Maldonado, D.
  3. Aguilera, A.M.
  4. Zhu, K.
  5. Lanza, M.
  6. Roldán, J.B.
Revista:
ACS Applied Materials and Interfaces

ISSN: 1944-8252,  1944-8244

Año de publicación: 2023

Volumen: 15

Número: 15

Páginas: 19102-19110

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/ACSAMI.2C22617 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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