Full-wave modeling of broadband near field scanning microwave microscopy

  1. Wu, B.-Y.
  2. Sheng, X.-Q.
  3. Fabregas, R.
  4. Hao, Y.
Revista:
Scientific Reports

ISSN: 2045-2322

Año de publicación: 2017

Volumen: 7

Número: 1

Tipo: Artículo

DOI: 10.1038/S41598-017-13937-5 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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