Nanoscale dielectric microscopy of non-planar samples by lift-mode electrostatic force microscopy

  1. Van Der Hofstadt, M.
  2. Fabregas, R.
  3. Biagi, M.C.
  4. Fumagalli, L.
  5. Gomila, G.
Revista:
Nanotechnology

ISSN: 1361-6528,  0957-4484

Año de publicación: 2016

Volumen: 27

Número: 40

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0957-4484/27/40/405706 GOOGLE SCHOLAR
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