Variability in HfO2-based memristors described with a new bidimensional statistical technique

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Zeitschrift:
Nanoscale

ISSN: 2040-3372,  2040-3364

Datum der Publikation: 2024

Ausgabe: 16

Nummer: 22

Seiten: 10812-10818

Art: Artikel

DOI: 10.1039/D4NR01237B GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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