The mystery ofthe Z<SUP>2</SUP>-FET 1 T-DRAM memory
- Bawedin, M.
- El Dirani, H.
- Lee, K.
- Parihar, M. S.
- Lacord, J.
- Martinie, S.
- Le Royer, C.
- Barbe, J. -Ch.
- Mescot, X.
- Fonteneau, P.
- Galy, Ph.
- Gamiz, F.
- Navarro, C.
- Cheng, B.
- Asenov, A.
- Taur, Y.
- Cristoloveanu, S.
- Sarafis, P (coord.)
- Nassiopoulou, AG (coord.)
ISSN: 2330-5738
ISBN: 978-1-5090-5313-1
Any de publicació: 2017
Pàgines: 51-52
Congrés: 3rd Joint International EUROSOI Workshop / International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS)
Tipus: Aportació congrés