MSDRAM, A2RAM and Z<SUP>2</SUP>-FET performance benchmark for 1T-DRAM applications

  1. Lacord, Joris
  2. Parihar, Mukta Singh
  3. Navarro, Carlos
  4. Wakam, Francois Tcheme
  5. Bawedin, Maryline
  6. Cristoloveanu, Sorin
  7. Gamiz, Fransisco
  8. Barbe, Jean-Charles
Colección de libros:
2018 INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMULATION OF SEMICONDUCTOR PROCESSES AND DEVICES (SISPAD 2018)

ISSN: 1946-1569

ISBN: 978-1-5386-6790-3

Año de publicación: 2018

Páginas: 198-201

Congreso: International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS