Why are SCE overestimated in FD-SOI MOSFETs?

  1. Navarro, C.
  2. Bawedin, M.
  3. Andrieu, F.
  4. Sagnes, B.
  5. Cristoloveanu, S.
Col·lecció de llibres:
2013 PROCEEDINGS OF THE EUROPEAN SOLID-STATE DEVICE RESEARCH CONFERENCE (ESSDERC)

ISSN: 1930-8876

ISBN: 978-1-4799-0649-9

Any de publicació: 2013

Pàgines: 304-307

Congrés: 43rd Conference on European Solid-State Device Research

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS