Why are SCE overestimated in FD-SOI MOSFETs?
- Navarro, C.
- Bawedin, M.
- Andrieu, F.
- Sagnes, B.
- Cristoloveanu, S.
ISSN: 1930-8876
ISBN: 978-1-4799-0649-9
Ano de publicación: 2013
Páxinas: 304-307
Congreso: 43rd Conference on European Solid-State Device Research
Tipo: Achega congreso