Back-gate effects and mobility characterization in junctionless transistor

  1. Parihar, M.S.
  2. Liu, F.
  3. Navarro, C.
  4. Barraud, S.
  5. Bawedin, M.
  6. Ionica, I.
  7. Kranti, A.
  8. Cristoloveanu, S.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Ano de publicación: 2016

Volume: 125

Páxinas: 154-160

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.SSE.2016.07.016 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus