Departament: ELECTRÓNICA Y TECNOLOGÍA DE COMPUTADORES

Facultat: FACULTAD DE CIENCIAS

Àrea: Electrònica

Grup d'investigació: GRUPO DE INVESTIGACION EN DISPOSITIVOS ELECTRONICOS

Correu: jalopez@ugr.es

Doctor per la Universidad de Granada amb la tesi Análisis de la degradación del sistema Si-SiO2 producida por inyección Fowler-Nordheim 1990. Dirigida per Dr. Juan Enrique Carceller Beltrán.