JUAN ELOY
RUIZ CASTRO
CATEDRÁTICO DE UNIVERSIDAD
Interuniversity Microelectronics Centre
Lovaina, BélgicaPublicaciones en colaboración con investigadores/as de Interuniversity Microelectronics Centre (1)
2020
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Reversible dielectric breakdown in h-BN stacks: A statistical study of the switching voltages
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings