ELECTRÓNICA Y TECNOLOGÍA DE COMPUTADORES
Fachbereich
Southeast University
Nankín, ChinaPublikationen in Zusammenarbeit mit Forschern von Southeast University (1)
2021
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Standards for the Characterization of Endurance in Resistive Switching Devices
ACS Nano, Vol. 15, Núm. 11, pp. 17214-17231