Standards for the Characterization of Endurance in Resistive Switching Devices

  1. Lanza, M.
  2. Waser, R.
  3. Ielmini, D.
  4. Yang, J.J.
  5. Goux, L.
  6. Suñe, J.
  7. Kenyon, A.J.
  8. Mehonic, A.
  9. Spiga, S.
  10. Rana, V.
  11. Wiefels, S.
  12. Menzel, S.
  13. Valov, I.
  14. Villena, M.A.
  15. Miranda, E.
  16. Jing, X.
  17. Campabadal, F.
  18. Gonzalez, M.B.
  19. Aguirre, F.
  20. Palumbo, F.
  21. Zhu, K.
  22. Roldan, J.B.
  23. Puglisi, F.M.
  24. Larcher, L.
  25. Hou, T.-H.
  26. Prodromakis, T.
  27. Yang, Y.
  28. Huang, P.
  29. Wan, T.
  30. Chai, Y.
  31. Pey, K.L.
  32. Raghavan, N.
  33. Dueñas, S.
  34. Wang, T.
  35. Xia, Q.
  36. Pazos, S.
  37. Mostrar todos los/as autores/as +
Revista:
ACS Nano

ISSN: 1936-086X,  1936-0851

Año de publicación: 2021

Volumen: 15

Número: 11

Páginas: 17214-17231

Tipo: Revisión

DOI: 10.1021/ACSNANO.1C06980 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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