Saila
ELECTRÓNICA Y TECNOLOGÍA DE COMPUTADORES
Biltzar ekarpenak (3) Ikertzaileren baten partaidetza izan duten argitalpenak
1991
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Aplicación del espectro de Reed-Muller a la generación de patrones de test
Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991
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Optimization problems on concurrent testing solved by neural networks
Lecture Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics)
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TESEO: algoritmo eficiente para la generación algebraica de patrones de test
Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991