Nanoscale aggregation phenomena at the contact line of air-drying pure water droplets on silicon revealed by atomic force microscopy

  1. Méndez-Vilas, A.
  2. Jódar-Reyes, A.B.
  3. Díaz, J.
  4. González-Martín, M.L.
Revista:
Current Applied Physics

ISSN: 1567-1739

Año de publicación: 2009

Volumen: 9

Número: 1

Páginas: 48-58

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.CAP.2007.11.009 GOOGLE SCHOLAR
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