Soft error rate comparison of 6T and 8T SRAM ICs using mono-energetic proton and neutron irradiation sources

  1. Malagón, D.
  2. Bota, S.A.
  3. Torrens, G.
  4. Gili, X.
  5. Praena, J.
  6. Fernández, B.
  7. Macías, M.
  8. Quesada, J.M.
  9. Sanchez, C.G.
  10. Jiménez-Ramos, M.C.
  11. García López, J.
  12. Merino, J.L.
  13. Segura, J.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Any de publicació: 2017

Volum: 78

Pàgines: 38-45

Tipus: Revisió

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.07.093 GOOGLE SCHOLAR