Soft error rate comparison of 6T and 8T SRAM ICs using mono-energetic proton and neutron irradiation sources

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Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 2017

Ausgabe: 78

Seiten: 38-45

Art: Rezension

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.07.093 GOOGLE SCHOLAR