Meta-heuristics for circuit partitioning in parallel test generation
- Gil, C.
- Ortega, J.
- Díaz, A.F.
- Montoya, M.G.
ISSN: 1611-3349, 0302-9743
ISBN: 9783540643593
Any de publicació: 1998
Volum: 1388
Pàgines: 315-323
Tipus: Aportació congrés
ISSN: 1611-3349, 0302-9743
ISBN: 9783540643593
Any de publicació: 1998
Volum: 1388
Pàgines: 315-323
Tipus: Aportació congrés