Meta-heuristics for circuit partitioning in parallel test generation
- Gil, C.
- Ortega, J.
- Díaz, A.F.
- Montoya, M.G.
ISSN: 1611-3349, 0302-9743
ISBN: 9783540643593
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 1388
Seiten: 315-323
Art: Konferenz-Beitrag
ISSN: 1611-3349, 0302-9743
ISBN: 9783540643593
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 1388
Seiten: 315-323
Art: Konferenz-Beitrag