Theoretical characterisation of point defects on a MoS2 monolayer by scanning tunnelling microscopy
- González, C.
- Biel, B.
- Dappe, Y.J.
ISSN: 1361-6528, 0957-4484
Datum der Publikation: 2016
Ausgabe: 27
Nummer: 10
Art: Artikel
Zeitschrift:
Nanotechnology