A simple model to analyze electron confinement and trapping in silicon nanodots

  1. Villanueva, J.A.L.
  2. Tejada, J.A.J.
  3. Palma, A.
  4. Bolívar, S.R.
  5. Carceller, J.E.
Actas:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings

ISBN: 9780780388109

Año de publicación: 2005

Volumen: 2005

Páginas: 345-348

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/SCED.2005.1504400 GOOGLE SCHOLAR
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