Memory Operation of Z²-FET without Selector at High Temperature
- Kwon, S.
- Navarro, C.
- Gamiz, F.
- Cristoloveanu, S.
- Kim, Y.-T.
- Ahn, J.
Revista:
IEEE Journal of the Electron Devices Society
ISSN: 2168-6734
Any de publicació: 2021
Volum: 9
Pàgines: 658-662
Tipus: Article