Memory Operation of Z²-FET without Selector at High Temperature

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Zeitschrift:
IEEE Journal of the Electron Devices Society

ISSN: 2168-6734

Datum der Publikation: 2021

Ausgabe: 9

Seiten: 658-662

Art: Artikel

DOI: 10.1109/JEDS.2021.3094104 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor