Active radiation-hardening strategy in bulk FinFETs
- Calomarde, A.
- Rubio, A.
- Moll, F.
- Gamiz, F.
Zeitschrift:
IEEE Access
ISSN: 2169-3536
Datum der Publikation: 2020
Ausgabe: 8
Seiten: 201441-201449
Art: Artikel