Active radiation-hardening strategy in bulk FinFETs
- Calomarde, A.
- Rubio, A.
- Moll, F.
- Gamiz, F.
Revista:
IEEE Access
ISSN: 2169-3536
Año de publicación: 2020
Volumen: 8
Páginas: 201441-201449
Tipo: Artículo