On the Low-Frequency Noise Characterization of Z2-FET Devices

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Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Año de publicación: 2019

Volumen: 7

Páginas: 42551-42556

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/ACCESS.2019.2907062 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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