Impact of the trap attributes on the gate leakage mechanisms in a 2D MS-EMC nanodevice simulator
- Medina-Bailon, C.
- Sadi, T.
- Sampedro, C.
- Padilla, J.L.
- Donetti, L.
- Georgiev, V.
- Gamiz, F.
- Asenov, A.
ISSN: 1611-3349, 0302-9743
ISBN: 9783030106911
Any de publicació: 2019
Volum: 11189 LNCS
Pàgines: 273-280
Tipus: Aportació congrés