Impact of the trap attributes on the gate leakage mechanisms in a 2D MS-EMC nanodevice simulator
- Medina-Bailon, C.
- Sadi, T.
- Sampedro, C.
- Padilla, J.L.
- Donetti, L.
- Georgiev, V.
- Gamiz, F.
- Asenov, A.
ISSN: 1611-3349, 0302-9743
ISBN: 9783030106911
Ano de publicación: 2019
Volume: 11189 LNCS
Páxinas: 273-280
Tipo: Achega congreso