Impact of Strain on S/D tunneling in FinFETs: A MS-EMC study
- Medina-Bailon, C.
- Sampedro, C.
- Padilla, J.L.
- Godoy, A.
- Donetti, L.
- Georgiev, V.P.
- Gamiz, F.
- Asenov, A.
Actes:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD
ISBN: 9781538667880
Any de publicació: 2018
Volum: 2018-September
Pàgines: 301-304
Tipus: Aportació congrés