Z2-FET memory matrix in 28 nm FDSOI technology

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  9. Bawedin, M.
Actas:
2018 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, EUROSOI-ULIS 2018

ISBN: 9781538648117

Año de publicación: 2018

Volumen: 2018-January

Páginas: 1-4

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ULIS.2018.8354341 GOOGLE SCHOLAR