Evaluation of thin-oxide Z2-FET DRAM cell

  1. Navarro, S.
  2. Lee, K.H.
  3. Marquez, C.
  4. Navarro, C.
  5. Parihar, M.
  6. Park, H.
  7. Galy, P.
  8. Bawedin, M.
  9. Gamiz, F.
  10. Cristoloveanu, S.
Actas:
2018 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, EUROSOI-ULIS 2018

ISBN: 9781538648117

Año de publicación: 2018

Volumen: 2018-January

Páginas: 1-4

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ULIS.2018.8354342 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus