Source-to-drain tunneling analysis in FDSOI, DGSOI, and FinFET devices by means of multisubband ensemble Monte Carlo
ISSN: 0018-9383
Año de publicación: 2018
Volumen: 65
Número: 11
Páginas: 4740-4746
Tipo: Artículo
ISSN: 0018-9383
Año de publicación: 2018
Volumen: 65
Número: 11
Páginas: 4740-4746
Tipo: Artículo