Source-to-drain tunneling analysis in FDSOI, DGSOI, and FinFET devices by means of multisubband ensemble Monte Carlo
ISSN: 0018-9383
Ano de publicación: 2018
Volume: 65
Número: 11
Páxinas: 4740-4746
Tipo: Artigo
ISSN: 0018-9383
Ano de publicación: 2018
Volume: 65
Número: 11
Páxinas: 4740-4746
Tipo: Artigo