Insights on the Body Charging and Noise Generation by Impact Ionization in Fully Depleted SOI MOSFETs

  1. Marquez, C.
  2. Rodriguez, N.
  3. Gamiz, F.
  4. Ohata, A.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 2017

Volumen: 64

Número: 12

Páginas: 5093-5098

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TED.2017.2762733 GOOGLE SCHOLAR
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