Analytical temperature dependent model for nanoscale double-gate MOSFETs reproducing advanced transport models
- Cheralathan, M.
- Sampedro, C.
- Gámiz, F.
- Iñiguez, B.
Revista:
Solid-State Electronics
ISSN: 0038-1101
Any de publicació: 2014
Volum: 98
Pàgines: 2-6
Tipus: Article