Influence of the interface trap location on the performance and variability of ultra-scaled MOSFETs

  1. Velayudhan, V.
  2. Gamiz, F.
  3. Martin-Martinez, J.
  4. Rodriguez, R.
  5. Nafria, M.
  6. Aymerich, X.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2013

Volumen: 53

Número: 9-11

Páginas: 1243-1246

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2013.07.052 GOOGLE SCHOLAR
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