Effects of oxide-charge space correlation on electron mobility in inversion layers

  1. Gamiz, F.
  2. Melchor, I.
  3. Palma, A.
  4. Cartujo, P.
  5. Lopez-Villanueva, J.A.
Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Datum der Publikation: 1994

Ausgabe: 9

Nummer: 5

Seiten: 1102-1107

Art: Artikel

DOI: 10.1088/0268-1242/9/5/015 GOOGLE SCHOLAR

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