Effects of oxide-charge space correlation on electron mobility in inversion layers

  1. Gamiz, F.
  2. Melchor, I.
  3. Palma, A.
  4. Cartujo, P.
  5. Lopez-Villanueva, J.A.
Aldizkaria:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Argitalpen urtea: 1994

Alea: 9

Zenbakia: 5

Orrialdeak: 1102-1107

Mota: Artikulua

DOI: 10.1088/0268-1242/9/5/015 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus