Surface roughness scattering model for arbitrarily oriented silicon nanowires
- Tienda-Luna, I.M.
- Ruiz, F.G.
- Godoy, A.
- Biel, B.
- Gmiz, F.
Zeitschrift:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 2011
Ausgabe: 110
Nummer: 8
Art: Artikel