Localization and quantification of noise sources in four-gate field-effect-transistors

  1. Luque Rodríguez, A.
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  3. Godoy, A.
  4. Ló pez Villanueva, J.A.
  5. Gó mez-Campos, F.M.
  6. Rodríguez-Bolivar, S.
Revista:
International Journal of Numerical Modelling: Electronic Networks, Devices and Fields

ISSN: 0894-3370,  1099-1204

Año de publicación: 2010

Volumen: 23

Número: 4-5

Páginas: 285-300

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1002/JNM.744 GOOGLE SCHOLAR

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