Dependence of generation-recombination noise with gate voltage in FD SOI MOSFETs
- Luque Rodríguez, A.
- Jiménez Tejada, J.A.
- Rodríguez-Bolívar, S.
- Mendes Almeida, L.
- Aoulaiche, M.
- Claeys, C.
- Simoen, E.
ISSN: 0018-9383
Datum der Publikation: 2012
Ausgabe: 59
Nummer: 10
Seiten: 2780-2786
Art: Artikel