One cut‐point phase‐type distributions in reliability. An application to resistive random access memories

  1. Acal, C.
  2. Ruiz‐castro, J.E.
  3. Maldonado, D.
  4. Roldán, J.B.
Revista:
Mathematics

ISSN: 2227-7390

Año de publicación: 2021

Volumen: 9

Número: 21

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/MATH9212734 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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