Experimental study of the series resistance effect and its impact on the compact modeling of the conduction characteristics of HfO2-based resistive switching memories

  1. Maldonado, D.
  2. Aguirre, F.
  3. González-Cordero, G.
  4. Roldán, A.M.
  5. González, M.B.
  6. Jiménez-Molinos, F.
  7. Campabadal, F.
  8. Miranda, E.
  9. Roldán, J.B.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 1089-7550 0021-8979

Año de publicación: 2021

Volumen: 130

Número: 5

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/5.0055982 GOOGLE SCHOLAR