A comprehensive characterization of the threshold voltage extraction in MOSFETs transistors based on smoothing splines

  1. Ibáñez, M.J.
  2. Roldán, J.B.
  3. Roldán, A.M.
  4. Yáñez, R.
Zeitschrift:
Mathematics and Computers in Simulation

ISSN: 0378-4754

Datum der Publikation: 2014

Ausgabe: 102

Seiten: 1-10

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.MATCOM.2013.04.024 GOOGLE SCHOLAR
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