An in-depth simulation study of Coulomb mobility in ultra-thin-body SOI MOSFETs
- Jiménez-Molinos, F.
- Roldn, J.B.
- Balaguer, M.
- Gmiz, F.
ISSN: 0268-1242, 1361-6641
Año de publicación: 2010
Volumen: 25
Número: 5
Tipo: Artículo
Revista:
Semiconductor Science and Technology