Sensitivity of Unbiased Commercial P-channel Power VDMOSFETs to X-ray Radiation

  1. Ristic, G.S.
  2. Jevtic, A.S.
  3. Ilic, S.D.
  4. Dimitrijevic, S.
  5. Veljkovic, S.
  6. Palma, A.J.
  7. Stankovic, S.
  8. Andjelkovic, M.S.
Actas:
Proceedings of the International Conference on Microelectronics, ICM

ISBN: 9781665445283

Año de publicación: 2021

Volumen: 2021-September

Páginas: 341-344

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/MIEL52794.2021.9569096 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus