Backscattered electron imaging of cultured cells: Application to electron probe X-ray microanalysis using a scanning electron microscope

  1. Fernández-Segura, E.
  2. Cañizares, F.J.
  3. Cubero, M.A.
  4. Revelles, F.
  5. Campos, A.
Revista:
Journal of Microscopy

ISSN: 0022-2720

Año de publicación: 1997

Volumen: 188

Número: 1

Páginas: 72-78

Tipo: Artículo

DOI: 10.1046/J.1365-2818.1997.2329792.X GOOGLE SCHOLAR
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