Test pattern generation for analog circuits using neural networks and evolutive algorithms

  1. Bernier, J.L.
  2. Merelo, J.J.
  3. Ortega, J.
  4. Prieto, A.
Col·lecció de llibres:
Lecture Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics)

ISSN: 1611-3349,  0302-9743

ISBN: 9783540594970

Any de publicació: 1995

Volum: 930

Pàgines: 838-844

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1007/3-540-59497-3_258 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus