New short and efficient algorithm for testing random-access memories
- Azimane, M.
- Ruiz, A.L.
Konferenzberichte:
Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems
ISBN: 0780350081
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 1
Seiten: 541-544
Art: Konferenz-Beitrag