A new algorithm for dynamic faults detection in RAMs
- Azimane, M.
- Majhi, A.
- Gronthoud, G.
- Lousberg, M.
- Eichenberger, S.
- Ruiz, A.L.
Konferenzberichte:
Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium
ISBN: 9780769523149
Datum der Publikation: 2005
Seiten: 177-182
Art: Konferenz-Beitrag